CELL Gap测量装置 AxoScan/AxoStep
产品概要 |
为测量LCD工程的Cell基板Gap等的设备,Axoxcan和Axostep2种测量方式。这2种测量方式,结合应用穆勒矩阵(Mueller Matrix)的软件分析,可1次同时测量Cell Gap,基板方向,扭转角,倾斜度。
产品特征 |
AxoScan是偏振光测量装置。使大炮灯(Cannon Lamp)的光穿透Cell基板的测量点,通过分析偏振光状态进行测量。使用于AxoScan的Head是由Axometrics公司自主开发的,特点是可高速/高精度地同时测量多种参数。Spot尺寸是3mm,测量这个Spot内的平均值。AxoStep是以CCD Camera代替AxoScan的Head的测量方式。因使用CCD Camera可进行区域的测量,并且因为可以替换镜头可对应低倍率(8.6mm左右)到高倍率(0.043mm左右)。测量参数与AxoScan一样,但是由于测量区域较广,所以可以对整个Pixel进行分析。
AxoScan |
测量区域 |
3mm(可定制) |
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测量时间 |
约1~2.5秒/区域 |
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测量参数 |
Cell Gap, |
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对应基板 |
G2~G8基板 |
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测量再现性 |
Cell Gap/3σ=0.005μm,基板方向,倾斜度,扭转角/3σ=0.1° |
AxoStep |
测量区域 |
8.6mm×6.9mm~0.043mm×0.034mm(通过更换物镜) |
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测量时间 |
约15秒 |
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测量参数 |
Cell Gap,基板方向,扭转角(上下),倾斜度 |
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对应基板 |
G2~G8基板 |
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测量再现性 |
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产品外观・构成 |